微型電動機
SL型交流伺服電動機上自儀股份Keysight World 2020 電信基礎設施云與人工智能分論壇
閱讀： 發(fā)布時間：2021-01-12
光纖在線訊，從設計和仿真到分析、調試到一致性測試，高速數字設計與測試全方位話題都將在Keysight World 2020 “電信基礎設施、云與人工智能” 分論壇詳細討論。現場更有諸多樣機實地展示，眾多技術大咖與您全方位進行深入的技術分享和探討。大會進入倒計時7天，還未報名的朋友通過以下二維碼抓緊時間注冊登記!
技術大咖
活動日程
七大主題演講摘要
主旨演講：下一代智能光網絡在數據中心和 5G 的發(fā)展趨勢
來自 5G、人工智能（AI）、虛擬現實（VR）、物聯(lián)網（IoT）和自動駕駛汽車的海量數據流，正在為網絡和數據中心的無處不在的帶寬創(chuàng)造前所未有的需求，面臨數據流幾何倍數的增長，預計下一代智能光網絡將會有革命性的變革。太比特通信和更高的集成度是未來智能光網絡和高速數字技術發(fā)展趨勢的關鍵所在。
了解數據中心聯(lián)網和計算（PCIe®5.0、DDR5 等）的*趨勢和解決方案，以及 400G 及以上的電信網絡。
越 800G 及下一代高速計算接口之路
5G, AR, 無人駕駛, 物聯(lián)網及人工智能應用的興起帶來實時大數據流量的需求，全球數據流量預計將在 2025 年達到 175 Zettabytes。從數據中心到 5G 承載網絡，前沿傳輸技術正在大步邁向 800G 領域，下一代單模、多模、相干、波分技術以及硅光都是科技革新的熱點。同時，傳統(tǒng)的高速計算接口技術 PCIe、DDR 也正從第四代升級到第 5 代，更多面向異構計算的互聯(lián)技術如 CCIX、GenZ、CXL、GDDR6 也逐步推向市場。
前沿技術的變革將給設計及測試帶來新的復雜挑戰(zhàn)，我們將在這一專題為您分享高速光電領域前沿技術信息。
800G 端口的到來給 Serdes 技術帶來的機遇與挑戰(zhàn)
新應用（云計算，AI）催生了更高互連帶寬的需求，業(yè)界需要更高速的光模塊，如 800G 技術。3/11 號，800G 可插拔光模塊 MSA 工作組發(fā)布了業(yè)內*份 800G MSA 白皮書，目標是定義面向數據中心應用的短距 800G 傳輸用的可插拔低成本光模塊，包括 8X100G 與 4X200G 兩種規(guī)范，傳輸距離包括 100m，500m，2km。目前業(yè)界有部分觀點認為 800G 的傳輸需求將在 2021 年出現，但直到 2023 年市場開始走向成熟。請在此專題了解更多嘉賓對于 800G 前沿研究的深入探討。
高速光電芯片現狀分析及是德科技解決之道
隨著物聯(lián)網、大數據和云計算技術的飛速發(fā)展，信息交互所需要的數據通信量呈現出爆炸式增長，應運而生的光纖通信技術隨之成為能夠實現高速信息傳輸的*技術。其中，作為支撐光學通信發(fā)展的核心光電器件，其結構與性能也在不斷被優(yōu)化，以滿足現代通信需求。伴隨傳輸速率的提升，傳輸信號占用的帶寬也越來越大，此時器件的光電*響應度，3dB 截止頻率等指標特性也受到開發(fā)者的廣泛重視。
Lightwave Component Analyzer（LCA）是測試所有相關光電 S 參數的*儀器。在使用 LCA 時，如何保證測試過程中為開發(fā)者提供*的測試結果將是需要考慮的問題，與此同時，更*的光通信測試儀表如可調激光源，光功率計和偏振分析儀等也將為高速光電器件測試提供*有力保障。
高性能計算 PCIe5.0/CXL/CCI 總線*進展和測試方案
當新冠疫情席卷全球，線上模式對人類生活的重要性驟然升高，面對這個突如其來的轉變，網絡互連基礎設施準備好了么？為了人類更美好的生活，無論線下還是線上，網絡互連基礎設施的加速發(fā)展再次迫在眉睫！作為網絡互連技術的基礎柱石，從 PCIE 到近年熱門的 CCIX 再到 CXL，加速發(fā)展配合數據中心和服務器對美好線下生活提供更高帶寬、更高容量以及人工智能的支持已經成為業(yè)內共識！KW2020 將繼續(xù)就 PCIE5.0 更新和 PCIE6.0 展望及 CXL 的發(fā)展和支撐測試方案作一全面介紹。
USB4.0 測試挑戰(zhàn)及解決方案
USB4.0 基于雷電 3 協(xié)議于 2019 年正式發(fā)布。數據傳輸速率在 USB3.2 X2 基礎上再次翻倍，對設計和測量都帶來更多的挑戰(zhàn)，USB4.0 的推出將被更多的設備所采用。而這些高速信號的測量需要測量儀表本身具有低的本底噪聲才能擁有信號的保真度。
讓我們回顧 USB4.0 規(guī)范的技術演進，測試挑戰(zhàn)及 Keysight 針對 USB4.0 的全套解決方案。
硅光晶圓級別量產測試與大數據管理分析系統(tǒng)整體解決方案
詳解硅光晶圓級別量產測試所面臨的挑戰(zhàn)以及 Eoulu 提供的系統(tǒng)集成方案整體（包括探針臺、儀表、系統(tǒng)集成控制軟件 futureC），并對量產測試所取得的海量數據的存儲、管理、分析等系統(tǒng)方案（futureD）進行了介紹。
*解決方案展示
峰會將會集中展示是德科技*的網絡基礎設施測試方案和設備，包括：PAM4 收發(fā)測試方案，相干光通信前沿研究，AI 和服務器中的 PCIE5.0/CXL/CCIX 測試方案，終端系統(tǒng)上的下一代高速 I/O—USB4 測試等。
技術大咖
活動日程
七大主題演講摘要
主旨演講：下一代智能光網絡在數據中心和 5G 的發(fā)展趨勢
來自 5G、人工智能（AI）、虛擬現實（VR）、物聯(lián)網（IoT）和自動駕駛汽車的海量數據流，正在為網絡和數據中心的無處不在的帶寬創(chuàng)造前所未有的需求，面臨數據流幾何倍數的增長，預計下一代智能光網絡將會有革命性的變革。太比特通信和更高的集成度是未來智能光網絡和高速數字技術發(fā)展趨勢的關鍵所在。
了解數據中心聯(lián)網和計算（PCIe®5.0、DDR5 等）的*趨勢和解決方案，以及 400G 及以上的電信網絡。
越 800G 及下一代高速計算接口之路
5G, AR, 無人駕駛, 物聯(lián)網及人工智能應用的興起帶來實時大數據流量的需求，全球數據流量預計將在 2025 年達到 175 Zettabytes。從數據中心到 5G 承載網絡，前沿傳輸技術正在大步邁向 800G 領域，下一代單模、多模、相干、波分技術以及硅光都是科技革新的熱點。同時，傳統(tǒng)的高速計算接口技術 PCIe、DDR 也正從第四代升級到第 5 代，更多面向異構計算的互聯(lián)技術如 CCIX、GenZ、CXL、GDDR6 也逐步推向市場。
前沿技術的變革將給設計及測試帶來新的復雜挑戰(zhàn)，我們將在這一專題為您分享高速光電領域前沿技術信息。
800G 端口的到來給 Serdes 技術帶來的機遇與挑戰(zhàn)
新應用（云計算，AI）催生了更高互連帶寬的需求，業(yè)界需要更高速的光模塊，如 800G 技術。3/11 號，800G 可插拔光模塊 MSA 工作組發(fā)布了業(yè)內*份 800G MSA 白皮書，目標是定義面向數據中心應用的短距 800G 傳輸用的可插拔低成本光模塊，包括 8X100G 與 4X200G 兩種規(guī)范，傳輸距離包括 100m，500m，2km。目前業(yè)界有部分觀點認為 800G 的傳輸需求將在 2021 年出現，但直到 2023 年市場開始走向成熟。請在此專題了解更多嘉賓對于 800G 前沿研究的深入探討。
高速光電芯片現狀分析及是德科技解決之道
隨著物聯(lián)網、大數據和云計算技術的飛速發(fā)展，信息交互所需要的數據通信量呈現出爆炸式增長，應運而生的光纖通信技術隨之成為能夠實現高速信息傳輸的*技術。其中，作為支撐光學通信發(fā)展的核心光電器件，其結構與性能也在不斷被優(yōu)化，以滿足現代通信需求。伴隨傳輸速率的提升，傳輸信號占用的帶寬也越來越大，此時器件的光電*響應度，3dB 截止頻率等指標特性也受到開發(fā)者的廣泛重視。
Lightwave Component Analyzer（LCA）是測試所有相關光電 S 參數的*儀器。在使用 LCA 時，如何保證測試過程中為開發(fā)者提供*的測試結果將是需要考慮的問題，與此同時，更*的光通信測試儀表如可調激光源，光功率計和偏振分析儀等也將為高速光電器件測試提供*有力保障。
高性能計算 PCIe5.0/CXL/CCI 總線*進展和測試方案
當新冠疫情席卷全球，線上模式對人類生活的重要性驟然升高，面對這個突如其來的轉變，網絡互連基礎設施準備好了么？為了人類更美好的生活，無論線下還是線上，網絡互連基礎設施的加速發(fā)展再次迫在眉睫！作為網絡互連技術的基礎柱石，從 PCIE 到近年熱門的 CCIX 再到 CXL，加速發(fā)展配合數據中心和服務器對美好線下生活提供更高帶寬、更高容量以及人工智能的支持已經成為業(yè)內共識！KW2020 將繼續(xù)就 PCIE5.0 更新和 PCIE6.0 展望及 CXL 的發(fā)展和支撐測試方案作一全面介紹。
USB4.0 測試挑戰(zhàn)及解決方案
USB4.0 基于雷電 3 協(xié)議于 2019 年正式發(fā)布。數據傳輸速率在 USB3.2 X2 基礎上再次翻倍，對設計和測量都帶來更多的挑戰(zhàn)，USB4.0 的推出將被更多的設備所采用。而這些高速信號的測量需要測量儀表本身具有低的本底噪聲才能擁有信號的保真度。
讓我們回顧 USB4.0 規(guī)范的技術演進，測試挑戰(zhàn)及 Keysight 針對 USB4.0 的全套解決方案。
硅光晶圓級別量產測試與大數據管理分析系統(tǒng)整體解決方案
詳解硅光晶圓級別量產測試所面臨的挑戰(zhàn)以及 Eoulu 提供的系統(tǒng)集成方案整體（包括探針臺、儀表、系統(tǒng)集成控制軟件 futureC），并對量產測試所取得的海量數據的存儲、管理、分析等系統(tǒng)方案（futureD）進行了介紹。
*解決方案展示
峰會將會集中展示是德科技*的網絡基礎設施測試方案和設備，包括：PAM4 收發(fā)測試方案，相干光通信前沿研究，AI 和服務器中的 PCIE5.0/CXL/CCIX 測試方案，終端系統(tǒng)上的下一代高速 I/O—USB4 測試等。
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